外径测量系统

  • 科研进展
  • 2024年10月31日
  • BMD塞规式高精度外径测量比较仪 结构特点 : 积木式结构,随意组合 适用于生产现场的自动及手动测量 精确的测量轴径及轴的形状误差 最大限度地减少人为因素对测量 结果的影响 满足100万次以上测量 技术参数 : 测量范围 :外径Ø20-Ø100mm 测量深度 :约12mm 测量精度 :≤1μm 线性误差 :≤1% ABM外径测量比较仪 结构及技术参数 : 自动定心

外径测量系统

BMD塞规式高精度外径测量比较仪

结构特点

积木式结构,随意组合

适用于生产现场的自动及手动测量

精确的测量轴径及轴的形状误差

最大限度地减少人为因素对测量

结果的影响

满足100万次以上测量

技术参数

测量范围:外径Ø20-Ø100mm

测量深度:约12mm

测量精度:≤1μm

线性误差:≤1%




ABM外径测量比较仪


结构及技术参数

自动定心

测量支柱可调

测量范围:5mm-25mm

重复精度:≤0.001mm

测量方法:用标准轴比较测量

ODV外径测量比较仪

型号

测量范围

ODV12-19

12-19mm

ODV18-25

18-25mm

ODV25-32

25-32mm

ODV32-38

32-38mm

ODV38-45

38-45mm

ODV45-51

45-51mm

ODV51-57

51-57mm

ODV57-64

57-64mm

ODV64-70

64-70mm

ODV70-76

70-76mm

ODV76-82

76-82mm

结构及技术参数

测头材料:金属陶瓷

测量范围:12mm-82mm

重复精度:≤0.001mm

测量方法:比较测量

猜你喜欢