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HOMMEL：T1E
Jenoptik研发了新一代的光学测量系统，使得生产过程中的质量控制更加便捷。
Jenoptik OPTICLINE测量系统
多年来，Opticline系列测量系统已经成为光学轴测量技术的标准。它们拥有令人印象深刻的高速度和精确度，并且易于操作。2015年，推出了新一代产品，带来了多项技术创新和优化。我们的系统可以在生产中实现高效透明的质量控制。
更接近实际需求
Opticline测量系统专为恶劣环境设计，它们非常坚固，不受外部影响。此外，它们还提供集成的自我监控功能，以确保大型设备可靠运行。
我们的光学设备能够对您的工件进行以下测试：
尺寸、螺纹尺寸、形状以及位置等多种参数。
形状包括直线度、圆度、圆柱度，以及自由形式、公差范围和凸轮形状。
位置包括径向跳动和轴向跳动，以及直线性、平行性和同心性。
明显提高效率
Opticline系统采用全自动光学和非接触式检测工艺，对复杂工件轮廓进行快速分析。在实际应用中，这不仅减少了操作员路线，还降低了成本浪费与错误。这有助于节省成本时间资源。
我们提供了一套用户友好的软件用于测量任务执行。它易于理解并具有直观界面，可以快速调整到定义好的工作流程，即使是复杂特征也能轻松处理。
卓越能力与超过25年的经验累积
我们的光学测量技术融合了我们在工业计量领域广泛专业知识及超过2,500台Opticline使用成功记录证明其效果良好。
如果您需要定制解决方案以适应您的质量控制需求，我们欢迎咨询专业团队，他们将帮助您找到最合适的选项。
代表型号：
T1E
T1000(T1E Artikel-Nr. 240000)
HW 902(032.90081) ID：M0435088
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HW 901(032.90080) ID：M0435087